UNSAM
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Materias optativas
Cristalografía y Difracción de Rayos X
Unidad Académica Instituto de Tecnología Prof. Jorge Sabato
Carrera Maestría en Ciencia y Tecnología de Materiales/Doctorado en Ciencia y Tecnología (Mención Materiales)
Nivel de carrera Posgrado
Docente/s Dra. N. Mingolo (UNSAM-CNEA)
Director/a Dr. Manuel IRIBARREN (UNSAM-CNEA)
Ubicación dentro del Plan de Estudios Tramo Final/Avanzado
Carga Horaria Total 72 hs
Cuatrimestre de Cursada Primer Cuatrimestre 2020.
Lugar de Cursada Centro Atómico Constituyentes
Días/Horario y Lugar de Cursada Lunes a Viernes 9 a 17 hs
Forma de acreditación Examen final
Contenidos Mínimos Representación geométrica del orden cristalino: Direcciones y planos (índices de Miller), Redes de Bravais, Proyección estereográfica - La estructura cristalina: Elementos de simetría, Grupos espaciales, Modelo de esferas rígidas, Compuestos iónicos y metálicos - Teoría cinemática de la difracción: Ley de Bragg, Red Recíproca, Factor de estructura, Intensidad difractada por un policristal, Esfera de Ewaldn - Producción de Rayos-X: Espectros continuo y discreto, Factor de absorción - Técnicas Experimentales: Características fundamentales del Difractómetro, Diagrama de difracción - Aplicaciones: Identificación de compuestos cristalinos, Medición de Tensiones Residuales, Análisis de la estructura cristalina, Medición cuantitativa de fases, Determinación de la textura cristalográfica de chapa.
Modalidad de Enseñanza Teórica Práctica
Carreras Destinatarias Todas las carreras
Nivel destinatario Posgrado
Nivel de Avance requerido para el estudiante destinatario Avanzado
Conocimientos previos requeridos
Cupos Disponibles
Créditos 4,5
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